Microscopio ottico LSM 900
per ricerca sui materialidrittoinvertito

microscopio ottico
microscopio ottico
microscopio ottico
microscopio ottico
microscopio ottico
microscopio ottico
microscopio ottico
microscopio ottico
microscopio ottico
microscopio ottico
microscopio ottico
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti
 

Caratteristiche

Tipo
ottico
Applicazioni
per ricerca sui materiali
Ergonomia
dritto, invertito
Tecnica di osservazione
a fluorescenza, 3D, confocale a scansione laser, polarizzato, per topografia
Configurazione
da banco
Risoluzione spaziale

120 nm, 405 nm, 488 nm, 561 nm, 640 nm

Descrizione

ZEISS LSM 900, il microscopio confocale a scansione laser (CLSM) di ZEISS, è l'unico strumento necessario per l'analisi dei materiali. Caratterizzate la topografia delle superfici delle microstrutture 3D nel vostro laboratorio o in una struttura multiutente. Combina tutte le tecniche essenziali di contrasto della microscopia ottica per i materiali con la topografia ad alta precisione. Risparmiate tempo per la configurazione, poiché non è necessario cambiare microscopio. Esecuzione di immagini confocali senza contatto per la valutazione della rugosità superficiale. LSM 900 è lo strumento ideale per una struttura multiutente. Estendete il vostro microscopio ottico verticale, ZEISS Axio Imager.Z2m o il vostro microscopio ottico invertito ZEISS Axio Observer 7, con un modulo di scansione confocale. Combinare il microscopio ottico e l'imaging confocale Indagate il vostro campione in modo efficiente Ampliate la vostra gamma di imaging Combinazione di microscopia ottica e imaging confocale LSM 900, la vostra piattaforma confocale di fascia alta, è stata realizzata per applicazioni esigenti sui materiali, sia in 2D che in 3D. Caratterizzazione delle strutture topografiche e valutazione della rugosità superficiale con l'imaging confocale senza contatto Determinare lo spessore di rivestimenti e film sottili in modo non distruttivo Utilizzare una serie di tecniche di imaging, tra cui la polarizzazione e la fluorescenza in contrasto ottico o in modalità confocale Caratterizzare campioni metallografici in luce riflessa o sezioni sottili di rocce o polimeri in luce trasmessa Indagare il campione in modo efficiente Riducete i tempi di allestimento e accelerate il time-to-result eseguendo analisi e immagini senza dover cambiare microscopio. Ottimizzate i vostri processi con l'acquisizione automatica dei dati in più posizioni del campione È sufficiente definire una regione di interesse sull'immagine panoramica per acquisire solo l'area necessaria

---

VIDEO

Cataloghi

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.