ZEISS LSM 900, il microscopio confocale a scansione laser (CLSM) di ZEISS, è l'unico strumento necessario per l'analisi dei materiali. Caratterizzate la topografia delle superfici delle microstrutture 3D nel vostro laboratorio o in una struttura multiutente. Combina tutte le tecniche essenziali di contrasto della microscopia ottica per i materiali con la topografia ad alta precisione. Risparmiate tempo per la configurazione, poiché non è necessario cambiare microscopio. Esecuzione di immagini confocali senza contatto per la valutazione della rugosità superficiale. LSM 900 è lo strumento ideale per una struttura multiutente. Estendete il vostro microscopio ottico verticale, ZEISS Axio Imager.Z2m o il vostro microscopio ottico invertito ZEISS Axio Observer 7, con un modulo di scansione confocale.
Combinare il microscopio ottico e l'imaging confocale
Indagate il vostro campione in modo efficiente
Ampliate la vostra gamma di imaging
Combinazione di microscopia ottica e imaging confocale
LSM 900, la vostra piattaforma confocale di fascia alta, è stata realizzata per applicazioni esigenti sui materiali, sia in 2D che in 3D.
Caratterizzazione delle strutture topografiche e valutazione della rugosità superficiale con l'imaging confocale senza contatto
Determinare lo spessore di rivestimenti e film sottili in modo non distruttivo
Utilizzare una serie di tecniche di imaging, tra cui la polarizzazione e la fluorescenza in contrasto ottico o in modalità confocale
Caratterizzare campioni metallografici in luce riflessa o sezioni sottili di rocce o polimeri in luce trasmessa
Indagare il campione in modo efficiente
Riducete i tempi di allestimento e accelerate il time-to-result eseguendo analisi e immagini senza dover cambiare microscopio.
Ottimizzate i vostri processi con l'acquisizione automatica dei dati in più posizioni del campione
È sufficiente definire una regione di interesse sull'immagine panoramica per acquisire solo l'area necessaria
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