Diffrattometro SAXS Xeuss 3.0

USAXSWAXSda ricerca

La linea di fascio di nuova generazione per il laboratorio Massima flessibilità Massime prestazioni Ampio spazio per l'ambiente dei campioni Lo Xeuss 3.0 è lo strumento di ultima generazione della collaudata famiglia Xeuss ed è già installato nelle principali strutture di ricerca di tutto il mondo. Incorpora tutte le più recenti innovazioni di Xenocs per aumentare le capacità, la flessibilità e la facilità d'uso. Dimensioni, struttura, forma, orientamento... Caratterizzare la nanostruttura della materia soffice e dei nanomateriali utilizzando la tecnica SAXS/WAXS e USAXS in modalità trasmissione o incidenza radente. - Distribuzione delle dimensioni delle particelle che vanno da pochi nanometri a oltre 350 nm di diametro - Tassi di cristallizzazione e struttura lamellare di polimeri semicristallini - Analisi delle dimensioni e della forma di tensioattivi o proteine in soluzione - Organizzazione e orientamento di nanomateriali su scala atomica o nanometrica, in fasi bulk o in superfici - Studi di segregazione di fase delle leghe - Studi in situ delle transizioni di nanostruttura Massima flessibilità Fornire strumenti strutturali a un'ampia comunità di utenti con la possibilità di operare in remoto e di accedere a una gamma unica di scale di lunghezza. Lo sviluppo e la progettazione di nanomateriali avanzati richiedono la caratterizzazione su un'ampia gamma di scale di lunghezza. Lo Xeuss 3.0 offre questa capacità di misura fino a 5 ordini di grandezza in q (vettore d'onda) attraverso un cambio di configurazione interamente motorizzato. Qualsiasi utente esperto può quindi far funzionare il sistema in remoto sull'intero intervallo di misura per un determinato campione o lotto di campioni.