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Nanogranulometro ottico SALD-7500nano
ad alta concentrazione

Nanogranulometro ottico - SALD-7500nano - Shimadzu Europa Analytical Instruments - ad alta concentrazione
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Caratteristiche

Tecnologia
ottico
Altre caratteristiche
ad alta concentrazione

Descrizione

Con una sensibilità 10 volte superiore rispetto ai modelli precedenti, questo analizzatore innovativo è in grado di misurare continuamente le variazioni delle dimensioni e della distribuzione delle particelle a intervalli di un secondo, in un intervallo compreso tra 7 nm e 800 μm. Inoltre, sono disponibili opzioni uniche che consentono di misurare anche campioni ad alta concentrazione (fino al 20 wt%) e campioni in tracce (fino a 15 μL). Grazie alle sue capacità di misura all'avanguardia, l'analizzatore sarà probabilmente utilizzato per molte applicazioni in nuovi settori, tra cui le nanotecnologie, le scienze della vita e le bolle fini (bolle microscopiche). Caratteristiche Ampio intervallo di misura: da 7 nm a 800 μm Da particelle primarie a particelle subvisibili e contaminanti Le variazioni delle dimensioni delle particelle nell'intervallo di misura da 7 nm a 800 μm possono essere misurate in modo continuo utilizzando un'unica sorgente luminosa, un unico sistema ottico e un unico principio di misura. Poiché una particella primaria e un aggregato e un contaminante possono essere misurati con un unico sistema, è possibile controllare le proprietà di aggregazione da una condizione di dispersione. La singola superficie di rilevamento cattura continuamente la luce diffusa in avanti fino a un angolo di 60° L'intervallo di dimensioni delle particelle target viene coperto senza problemi utilizzando un unico principio di misura, un unico sistema ottico e un'unica sorgente luminosa. Inoltre, poiché il SALD-7500nano non incorpora sistemi ottici multipli che creano discontinuità nei dati, è possibile effettuare misurazioni accurate della distribuzione granulometrica nell'intero intervallo di misura utilizzando un unico standard. L'applicazione del sistema ottico SLIT*, basato su una sofisticata tecnologia di tracciamento dell'intensità della luce diffusa,

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