L'S wide è un sistema dedicato progettato per misurare rapidamente grandi aree di campione fino a 300 x 300 mm. Offre tutti i vantaggi di un microscopio digitale integrato in uno strumento di misura ad alta risoluzione. Estremamente facile da usare, con un solo pulsante di acquisizione.
SOLUZIONI
Sistema di metrologia ottica 3D per grandi superfici
Produzione avanzata
Archeologia e paleontologia
Elettronica di consumo
Dispositivi medici
Stampaggio
Ottica
Industria orologiera
Ripetibilità dell'altezza inferiore al micron sull'intera area estesa
Misura dell'altezza in un colpo solo fino a 40 mm senza scansione Z
Lenti bi-telecentriche con distorsione di campo molto bassa per una metrologia accurata
Deviazione della forma dai modelli CAD 3D
che fornisce la misura della differenza geometrica e della tolleranza
Lenti bi-telecentriche con distorsione di campo molto bassa per una metrologia accurata
Deviazione di forma dai modelli CAD 3D
che fornisce la misura della differenza geometrica e della tolleranza
---