Microscopia ottica Spotlight 400

FT-IRda laboratoriospettrale

I sistemi di microscopi IR Spotlight™ sono progettati per rispondere alle sfide di un laboratorio in espansione, generando dati di alta qualità e riproducibili da una varietà di tipi di campioni. Il sistema di imaging FT-IR Spotlight 400 combina alta sensibilità e rapidità di imaging con la facilità d'uso. La capacità di acquisire rapidamente immagini di ampie aree di campione ad alta risoluzione spaziale estende la microscopia FT-IR a nuove applicazioni. Panoramica Il sistema di imaging FT-IR Spotlight 400 è stato progettato con una tecnologia all'avanguardia per consentire un'automazione intelligente e sofisticate capacità di analisi. Il sistema incorpora una serie di strumenti di produttività unici e dispone di un sistema di imaging ATR che consente di raccogliere immagini all'infrarosso ad alta risoluzione di campioni estremamente piccoli per visualizzare la composizione dei materiali sulla base dei dati spettrali FT-IR. Le caratteristiche uniche del sistema Spotlight 400 includono: Produzione di spettri e immagini di alta qualità da aree campione, con risoluzioni di pixel di 6,25, 25 o 50 micron Individuazione della regione di interesse (ROI) per facilitare l'analisi di più particelle e strati contemporaneamente Configurabilità per l'utilizzo con il sistema Spectrum 3™, con il mid-IR a gamma estesa, il near-IR o l'FT-IR a doppia gamma, per ottenere il massimo delle informazioni dai campioni nel minor tempo possibile. Configurabilità da utilizzare con FT-IR a medio, vicino o doppio raggio con i sistemi Spectrum 3™ per ottenere il massimo delle informazioni dai campioni nel minor tempo possibile.