I sistemi di ispezione ottica DM8000 M e DM12000 M consentono di migliorare il processo decisionale sulla qualità dei prodotti e di risparmiare tempo potendo contare su una visione più approfondita dei campioni.
Questi microscopi d’ispezione assicurano rapidità ed affidabilità delle ispezioni di materiali come semiconduttori e wafer, consentendoti di eseguire controlli di qualità e di individuare rapidamente i difetti.
Svela i dettagli più nascosti
Individua i difetti ed esegui una rapida panoramica dei campioni, ciò ti consente di migliorare l'analisi e il processo decisionale.
Ottimizza il tuo modo di lavorare
L'automazione e la facilità d'uso riducono al minimo la necessità di regolazioni, facendoti risparmiare tempo prezioso durante il processo d’ispezione.
Mantieni il comfort dell'utente in un ambiente sicuro e controllato
Lavora in una posizione rilassata, con un comfort ottimale durante tutto il processo di ispezione, per aumentare la produttività.
Visualizzazione rapida di strutture e difetti
Rileva e analizza diversi tipi di strutture e difetti, come graffi e contaminazione, presenti sui campioni. Per eseguire le ispezioni in modo rapido e affidabile, puoi scegliere tra una serie di metodi di illuminazione e contrasto, come il campo chiaro, il campo scuro, la polarizzazione, e il contrasto di interferenza differenziale (DIC), la fluorescenza (Fluo) e l'infrarosso (IR). Migliora la risoluzione con la luce ultravioletta (UV).
Acquisisci ulteriori informazioni sulla superficie utilizzando l'illuminazione obliqua. Usala in combinazione con l'UV per migliorare ulteriormente il contrasto.