Spettrometro di massa a tempo di volo con desorbimento/ionizzazione laser assistita da matrice
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Il JMS-S3000 è un MALDI-TOFMS* che incorpora l'innovativa ottica ionica SpiralTOF.
Il JMS-S3000 si è evoluto in SpiralTOF™-plus 2.0 con una gamma dinamica molto più ampia. Il JMS-S3000 definisce un nuovo standard nelle prestazioni MALDI-TOFMS e fornisce soluzioni analitiche all'avanguardia per un'ampia gamma di aree di ricerca come i polimeri sintetici funzionali, la scienza dei materiali e le biomolecole.
Spettrometro di massa a tempo di volo con desorbimento/ionizzazione laser assistito da matrice
Ridotto effetto topografico del cristallo della matrice
L'effetto topografico del cristallo di matrice determina una differenza nella posizione di inizio volo degli ioni, con conseguente differenza nel tempo di volo. Nel sistema ottico ionico convenzionale, questa differenza di tempo degrada il potere risolutivo della massa e anche l'accuratezza della massa ottenuta con la calibrazione esterna della massa. Grazie alla distanza di volo estesa, JMS-S3000 riduce questo effetto al minimo e consente di ottenere un potere risolutivo di massa altamente riproducibile e un'elevata precisione di massa con una calibrazione di massa esterna. L'elevata risoluzione di massa e l'accuratezza di massa possono essere mantenute per l'analisi delle immagini di un campione biologico in cui viene acquisito un gran numero di spettri di massa su un'ampia area e la superficie del campione è probabilmente irregolare.
Raggiungere un'ampia gamma dinamica
Lo SpiralTOF™-plus 2.0 ha realizzato un'ampia gamma dinamica migliorando notevolmente il sistema di rilevamento. Ciò consente di rilevare simultaneamente picchi con differenze di intensità ionica di circa 4 ordini di grandezza.
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