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per spettrometria di massadi analisidi condivisione

Visualizza dati spettrali di massa complessi e accelera la condivisione delle informazioni! Caratteristiche Analisi del difetto di massa di Kendrick (KMD) e sua applicazione ai polimeri sintetici L'analisi del difetto di massa di Kendrick (KMD) è un metodo proposto da Edward Kendrick nel 1963 [1] che viene utilizzato ancora oggi nel settore petrolchimico. In spettrometria di massa, una massa accurata ottenuta da uno spettrometro di massa ad alta risoluzione utilizza un sistema unitario con la massa di 12C pari a 12,0000 u, mentre la massa di Kendrick (KM) utilizza un sistema unitario di CH2 = 14,00000. È possibile classificare i picchi dello spettro di massa di una miscela estremamente complessa composta principalmente da idrocarburi, come il petrolio greggio, in base al grado di insaturazione degli idrocarburi e alla presenza o meno di eteroatomi. L'Istituto Nazionale di Scienza e Tecnologia Industriale Avanzata (AIST) e JEOL Ltd. sono riusciti ad applicare il principio del metodo dei difetti di massa di Kendrick all'analisi degli spettri di massa ad alta risoluzione dei polimeri [2]. In questo caso, KM è definito in modo che la massa esatta del monomero, che è un'unità ripetente, sia un numero intero. La creazione di un grafico Kendrick Mass Defect (KMD) consente di visualizzare i tipi e il numero di polimeri negli spettri di massa complessi senza assegnare i singoli picchi dello spettro di massa. Recentemente sono stati proposti i metodi Fraction Base KMD, Remainder of KM, ecc. come tecnologie correlate che possono essere applicate all'analisi dei polimeri in un ampio intervallo di massa e all'analisi strutturale dei polimeri mediante MS/MS. Queste tecnologie KMD non solo riducono i tempi di analisi dei polimeri, ma facilitano anche la condivisione delle informazioni.