Microscopio a forza atomica attoAFM I

da laboratoriocompatto

supporto a sbalzo senza allineamento → sostituzione della punta in meno di 2 minuti rilevamento interferometrico della deflessione del cantilever → misuratore di ampiezza incorporato scansione ad anello chiuso (opzionale) → facile recupero delle regioni di interesse L'attoAFM I è un microscopio a forza atomica compatto, progettato in particolare per applicazioni a bassa e bassissima temperatura e in campi magnetici elevati. Lo strumento funziona scansionando il campione sotto un cantilever fisso e misurando la sua deflessione con la massima precisione grazie a un interferometro ottico a fibra. Questa tecnica di rilevamento della deflessione ha il vantaggio di avere un misuratore di lunghezza incorporato per l'ampiezza di oscillazione del cantilever, poiché il contrasto dell'interferometro è direttamente proporzionale alla lunghezza d'onda del laser. Sono applicabili sia la modalità a contatto che quella senza contatto. Viene impiegato principalmente per la microscopia a forza magnetica (MFM), come l'imaging di vortici su superconduttori o l'imaging di domini magnetici a temperatura variabile, e per la microscopia a forza a risposta piezoelettrica (PFM) su ferroelettrici e multiferroici. Altre modalità di misura AFM supportate includono la microscopia di forza a sonda Kelvin (KPFM), l'AFM conduttiva (c-AFM), la microscopia di forza elettrica (EFM) e altre modalità di imaging. Per ulteriori informazioni, consultate i nostri fondamenti di microscopia. La struttura rigida del modulo del microscopio consente anche la combinazione con sistemi di raffreddamento a tubo d'impulso privi di criogeno per applicazioni in cui l'elio liquido non è disponibile o desiderato.