Ellissometro spettroscopico PHE 102

da laboratorio

Angstrom Advanced definisce lo standard dell'ellissometria, offrendo il meglio della tecnologia ellissometrica ai prezzi più accessibili. Angstrom Advanced offre una gamma completa di ellissometri per la misurazione dello spessore di film sottili, la caratterizzazione ottica per l'analisi dell'indice di rifrazione e del coefficiente di estinzione (n e k). I nostri ellissometri possono essere utilizzati per molte applicazioni diverse e sono impiegati in alcuni dei laboratori più prestigiosi come il MIT, la NASA, la UC Berkeley, la Yale University, la Duke University, il NIST e molti altri. Misurazione rapida nell'intervallo UV/VIS/NIR di 250 - 1100 nm con rivelatore diode array o spettrometro a motore (monocromatore) Estensione opzionale della gamma spettrale nel NIR (700 - 1700 nm) o (700 - 2100 nm) Estensione opzionale della gamma UV-VIS (190 - 1100 nm) Il polarizzatore rotante consente di misurare con precisione qualsiasi stato di polarizzazione Analizzatore a scansione graduale per un'acquisizione ad alta velocità e basso rumore Angolo variabile da 10-90° è disponibile anche l'angolo automatico da 10-90° Determinazione rapida dello spessore e dell'indice di rifrazione di campioni singoli o multistrato I dati Psi e Delta ad ampio spettro vengono misurati automaticamente e adattati attraverso il software PHE-102 Il software PHE-102 è il programma più completo disponibile per l'acquisizione e l'analisi dei dati. Combina algoritmi di adattamento matematico all'avanguardia con un'ampia scelta di opzioni di modellazione per un'analisi rapida e accurata dei dati. Un software avanzato per l'ellissometria spettroscopica Libreria di proprietà dei materiali incorporata, che comprende diverse centinaia di modelli di materiali Miscelazione di nuovi materiali utilizzando le proprietà dei materiali noti