Microscopio AFM AA2000

digitaleSTMda laboratorio

Risoluzione su scala atomica Grande dimensione del campione DSP (Digital Signal Processing) per grandi prestazioni Sistema operativo in tempo reale incorporato Connessione Fast Ethernet con il computer Multifunzione Microscopio a forza atomica (AFM) Microscopio a forza laterale (LFM) Analisi della forza: Curva I-V, Curva I-Z, Curva di forza Immagine 3D online in tempo reale per una migliore osservazione Segnali multicanale per maggiori dettagli sul campione Scansione Trace-Retrace, scansione Back-Forward Analisi multipla: Granularità e rugosità Caricamento dei dati per ulteriori analisi Funzionamento semplice Rapido inserimento automatico della punta Facile sostituzione del portapunta, per una semplice commutazione tra STM e AFM Controllo completamente digitale, riconoscimento automatico dello stato del sistema Movimento del campione basato su software Funzione Nano-Movie: Raccolta, memorizzazione e riproduzione continua dei dati Specifiche tecniche Parametri tecnici Portata di scansione X-Y: ~ 10 micrometri Distanza Z: ~ 2 micrometri Pixel immagine: 128 × 128, 256 × 256, 512 × 512, 1024 × 1024 Angolo di scansione: 0 ~ 360° Velocità di scansione: 0.1 ~ 100 Hz Elettronica CPU: processore di segnale digitale (DSP) a 32 bit a 600 MHz di Texas Instruments DAC veloce a 16 bit ADC veloce a 16 bit Alta tensione: 5 canali Interfaccia di comunicazione: 10M/100M Fast Ethernet Meccanica Dimensioni del campione: Fino a 45 mm di diametro, fino a 15 mm con AA2000/AA3000 e fino a 30 mm con AA5000; Ingaggio: Innesto automatico con distanza di spostamento di 30 mm e precisione di 50 nm Design modulare per una manutenzione agevole e aggiornamenti futuri Software Software di controllo online e software di elaborazione immagini offline