Spettrometro XRF EDX series

LEDda bancocompatto

Lo spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia EDX-7000/8000 misura l'energia (keV) e l'intensità dei raggi X fluorescenti generati per determinare il tipo e il contenuto degli elementi che compongono un campione. Si applica per l'analisi elementare non distruttiva di campioni solidi, in polvere e liquidi. È ampiamente utilizzato dai produttori di elettronica e di automobili di tutto il mondo. Gli spettrometri a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia EDX-7000P e EDX-8000P hanno superato l'omologazione BfS, gli standard di sicurezza prescritti dal BfS (Bundesanstalt für Strahlenschutz) tedesco. Principio della generazione di raggi X fluorescenti Quando un campione viene irradiato con raggi X da un tubo radiogeno, gli atomi del campione generano raggi X unici che vengono emessi dal campione. Tali raggi X sono noti come "raggi X fluorescenti" e hanno una lunghezza d'onda e un'energia uniche, caratteristiche di ciascun elemento che li genera. Di conseguenza, l'analisi qualitativa può essere eseguita esaminando le lunghezze d'onda dei raggi X. Poiché l'intensità dei raggi X fluorescenti è una funzione della concentrazione, l'analisi quantitativa è possibile anche misurando la quantità di raggi X alla lunghezza d'onda specifica di ciascun elemento. Design funzionale Ampia camera di campionamento con ingombro ridotto La larghezza installata è inferiore del 20% rispetto allo strumento precedente grazie alle dimensioni compatte del corpo. Lampada LED ad alta visibilità Quando vengono generati raggi X, si accendono un indicatore di raggi X sul retro dello strumento e una spia X-RAYS ON sulla parte anteriore, in modo da poter monitorare lo stato dello strumento anche a distanza.